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備案號(hào):蘇ICP備17017372號(hào)-1
蘇公網(wǎng)安備 32058202010025號(hào)
儀器名稱(chēng):雙束掃描電子顯微鏡(含能譜儀、背散射電子衍射儀、FIB)
主要參數(shù):二次電子像分辨率1.2nm(30kV),最大放大倍數(shù)300,000×
主要功能:微區(qū)形貌觀(guān)察、材料斷口形貌及失效分析、微區(qū)成分定性/定量分析、聚焦離子束顯微加工、變溫過(guò)程組織原位觀(guān)察